Caratterizzazione materiali e dispositivi

Tipologia: 
Infrastruttura localizzata
Localizzazione: 
Laboratorio di riferimento: 
Laboratorio Nanomateriali e Dispositivi

Per assicurare le caratteristiche e le prestazioni dei materiali e dei dispositivi realizzati, il Lab. NANO è dotato di un gran numero di strumenti diversi: SEM ZEISS LEO 1530 con microanalisi

  • profilometro ottico Taylor Hobson CCD HD 4K
  • profilometro a stilo KLA Tencor Alpha Step IQ
  • angolo di contatto Dataphysics OCA20
  • diffrattometro a raggi PANalytical X’Pert (XRD)
  • analisi termogravimetrica e calorimetro differenziale TGA-DSC Netzsch Jupiter 449F3
  • spettrofotometro PerkinElmer Lambda 900
  • spettrofluorimetro Horiba FluoroLog3
  • spettroradiometro Gooch & Housego OL770
  • glove box Jacomex per caratterizzazione di OLED in atmosfera inerte
  • camera climatica Vötsch per l’invecchiamento accelerato dei dispositivi
  • risposta spettrale di dispositivi fotovoltaici
  • stazione di misura per dispositivi CASCADE Summit 11000B-M
  • sistema a camera di test per rapide variazioni di temperatura Linkam HFS600E-PB4
  • sistema di caratterizzazione per semiconduttori Linseis HCS-1
  • vari strumenti per caratterizzazione elettrica (picoamperometro, impedenzimetro, source meter I÷V, C÷V, C÷f, oscilloscopio, generatore di segnali, analizzatore vettoriale di reti, ecc.).